頭顱側位投照在口腔矯正檢查上有極其重要的意義,主要用于口腔正畸的治療觀察和X線頭影測量。
我們實踐的口腔頜面頭顱側位透視投照技術,可以在現(xiàn)有條件下攝出較高質(zhì)量的頭顱側位測量片。經(jīng)臨床實踐,按投照要點進行操作,優(yōu)良片率很高,可以滿足測量診斷需要。
口腔矯正頭顱側位透視投照技術要點討論如下:
①采用坐位投照。坐位優(yōu)于常規(guī)頭顱側位投照。主要是因為常規(guī)頭顱側位對位置精度要求不高,擺位時投照方向上很容易出現(xiàn)角度偏差,尤其是不能擺脫頭足向的傾角,很難使兩側五官解剖結構重疊顯像,會在圖像上形成較大的位移,造成測量誤差。
②中心線選擇下頜角上1cm,是基于口腔科要求,矯正需要標準的面顱影像,對準下頜骨角上1cm垂直投照可以使咬合面結構及雙下頜骨支、外耳孔等測量標記點重疊成像,減少角度偏差,有利于提高測量準確度。
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